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先進(jìn)可測性設(shè)計

根據(jù)芯片產(chǎn)品的不同階段(MPW、NTO、量產(chǎn)),給出scan、bscan、 mbist、analogbist等匹配的DFT整體解決和實(shí)施方案。

設(shè)計流程